失效分析探针台
型号:FTS-FA8
FTS-FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备,具光学特性、激光特性,设备结构稳定,系统性能优异,人体工程学设计,操作便捷,支持多功能升***,产品功能丰富齐全。
产品概要
FTS-FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备,具光学特性、激光特性,设备结构稳定,系统性能优异,人体工程学设计,操作便捷,支持多功能升***,产品功能丰富齐全。
应用方向
常温和高低温环境下的芯片失效分析、射频特性器件失效分析、材料/器件的IV/CV特性测试及失效分析、芯片内部线路/电***/PAD测试、IC/面板内部线路修改/去层
技术特点
失效分析实验室专用
大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计,定位准确
激光可选择性去除特定材料而不损伤下层
材料/器件的IV/CV特性测试及失效分析
可做LCD液晶热点侦测
适用于IC/面板内部线路修改/去层
可升***用于12英寸以内样品测试
激光***小可加工精度1*1um
芯片内部线路/电***/PAD测试
射频特性器件失效分析